高性能、高可靠的iData產品是如何煉成的?

來源:盈達聚力 發布時間:2015-03-30

從iData首款Windows Mobile系列終端到Android系列終端,以及即將推出的更高性能、全新設計的系列新品……iData任性地堅守著“高性能、高可靠,源自iData”的品牌理念,始終專注于為用戶提供最好的移動物聯終端產品。

那么,高性能、高可靠的iData產品到底是如何煉成的?下面就讓我們來見證iData產品的一系列專業、可靠的性能測試!

iData的每一款產品都要經過iData專業實驗室的嚴酷測試。

高低溫測試

模擬iData設備在低溫(-20℃)和高溫(60℃)環境下,檢測產品依然能夠正常工作和維護。

自由跌落測試

從1.5米高度對iData設備進行6面各3次的自由跌落測試,檢測設備的抗摔性能和結構合理性。

滾筒微跌落測試

iData產品在1250px的滾筒箱,旋轉100圈的微跌落實驗,檢測設備的外殼耐磨性和結構合理性。

按鍵測試和拔插測試

iData產品的高品質基因源于對材料的嚴格篩選,所有按鍵的打擊和所有的接口的插拔都會通過壽命極限測試。

按鍵測試——對產品主按鍵進行50萬次,側按鍵5萬次打擊測試

拔插測試——將設備插孔與連接插針進行5000次插拔測試

ESD防靜電測試

對iData產品進行靜電放電,采用靜電高壓測試儀進行接觸和間隙測試,確保干燥環境下靜電對設備性能無任何影響。

機殼壓力測試

對iData設備采用20kg的壓力按壓200次,產品外觀無變形、無異常,功能正常。

電池性能測試

對電池進行綜合參數測試,確保電池性能穩定。

iData全系產品同時要經過權威檢測機構的多項資質認證。

微波暗室OTA測試

為了使iData產品有良好的無線通信性能,我們通過在微波暗室進行OTA測試,檢測產品的通信輻射接收性能數據。

                        通信性能射頻傳導測試                                     TRP總發射功率/TIS接收靈敏度測試


EMC(Electro Magnetic Compatibility)電磁兼容測試

EMC主要分為電磁騷擾測試和電磁抗擾度測試,iData產品在研發及定型階段都會委托國內一流的專業測試機構進行測試,以保證設備達到優秀的電磁兼容性能。

1. EMI(Electro-Magnetic Interference)---電磁騷擾測試

電磁騷擾測試主要用于檢測iData設備所產生的電磁輻射對人體、公共電網以及其他正常工作之電器產品的影響。

輻射騷擾測試(高/低頻段)

2.EMS(Electro-Magnetic Susceptibility)--電磁抗擾度測試

電磁抗擾度測試可以檢測設備能否在電磁環境中穩定工作,以確保iData產品在各種電磁環境中使用不受影響。

射頻電磁場輻射抗擾度測試

SAR(Specific Absorption Rate)測試

為了將電磁波輻射降低至一個合適的水平,iData每款產品還會進行SAR測試。

iData產品多個方位的SAR測試

以上就是iData的產品測試之旅了。

每一臺iData設備在出廠前,都要經過全面嚴酷的測試,確保用戶無憂使用。


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